สัญญาณรบกวนจอห์นสัน–นือควิสต์

จาก testwiki
ไปยังการนำทาง ไปยังการค้นหา

แม่แบบ:ต้องการอ้างอิง สัญญาณรบกวนจอห์นสัน–นือควิสต์ (แม่แบบ:Langx) คือ สัญญาณรบกวนซึ่งมีผลมาจากอุณหภูมิ ซึ่งมาจาการที่พลังงานความร้อน มีผลต่อการเคลื่อนที่ของอิเล็กตรอนในตัวนำไฟฟ้า สัญญาณนี้ได้ถูกทดลองโดย จอห์น บี จอห์นสัน (John B. Johnson) แต่ได้รับการอธิบายในทางทฤษฎีโดยฮารี นือควิสต์ โดยได้ผลตรงกัน

ในแบบจำลองทางทฤษฎี เราจะสมมุติปัญหาให้เป็นความผันผวนจากอุณหภูมิแบบสุ่มของอิเล็กตรอนภายตัวต้านทาน 1 มิติ ที่มีความยาวเป็น L มีพื้นที่หน้าตัดเป็น A มีความต้านทาน R และมีศักย์ไฟฟ้าตกคร่อมจากกฎของโอห์ม V=IR โดยกระแสและศักย์ไฟฟ้านั้นจะมีผลมาจากความผันผวนทางอุณหภูมิ ที่จะอนุญาตให้อิเล็กตรอนเคลื่อนที่ไปในทิศทางหนึ่ง ๆ มากกว่าทิศทางอื่น ๆ

โดยปรกติแล้วเมื่อไม่มีกระแสไหล จะได้ว่าศักย์ไฟฟ้าเฉลี่ยจะมีค่าเท่ากับศูนย์ จากการที่อิเล็กตรอนควรจะเคลื่อนที่แบบสุ่มไปเท่า ๆ กันทั้งสองด้านของตัวนำไฟฟ้า

นั่นคือ V=0

แต่ว่าในความเป็นจริงความผันผวนทางอุณหภูมิควรจะทำให้ค่าของศักย์ไฟฟ้ามีค่าที่เวลาต่าง ๆ V(t)0

จึงใช้ผลจาก ΔV2=(VV)2=V2V2=V20

ΔV2=V2 คือ ศักย์จากสัญญาณรบกวนทางอุณหภูมิ (thermal noise voltage)

จากกฎของโอห์ม ΔV=ΔIR=Δqt0R=eΔx/Lt0R

โดยที่ L คือความยาวของตัวต้านทาน Δx เป็นการเคลื่อนที่โดยรวมตามทิศทาง x ของอิเล็กตรอนทุกตัวในช่วงเวลา t0

จะได้ว่า Δx=NΔd

Δd คือ ระยะทางเฉลี่ยที่อิเล็กตรอนแต่ละตัวเคลื่อนที่ และ N คือ จำนวนอิเล็กตรอนที่เคลื่อนที่ทั้งหมดในช่วงเวลา t0

จะได้ว่า ΔV=eLNΔdt0R

และจาก N=(nAL)t0τ

โดย n คือ ความหนาแน่นของอิเล็กตรอนที่ถูกเหนี่ยวนำ

τ คือ ช่วงเวลาที่อิเล็กตรอนแต่ละตัวจะปะทะ (Collision) กัน จาก (Δd)2=d2=vx2τ2=vx2τ2

และความสัมพันธ์อัตราเร็วกับอุณหภูมิ E=12mvx2=12kBT โดย m คือ มวลอิเล็กตรอน

นั่นคือ (Δd)2=kBTτ2m

จะได้ว่า

(ΔV)2=e2L2N(Δd)2t02R2

=e2L2nALt0τkBTτ2mt02R2=ALne2τmkBTt0R2

แต่ว่า LA2mne2τ=LAρ=R

ดังนั้น V2=4kBTRΔf

โดยที่ Δf=12t0

V2Δf=4kBTR [Volt2/Hz] ความถี่สัญญาณ (bandwidth) [ความหนาแน่นพลังงานในความถี่] [power spectral density] แม่แบบ:โครงฟิสิกส์